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电子元器件高低温冲击试验箱

产品用途高低温冲击试验箱，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性....

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产品介绍 / Introduction

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产品用途

高低温冲击试验箱，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。

设备核心特点

结构图

技术指标

型号	CJ80S3	CJ150S3	CJ225S3
性能参数	预热室		预热温度上限		200℃
	预热室		温度上升时间		R.T.→＋200℃约40min
	预冷室		预冷温度下限		0～-75℃
	预冷室		温度下降时间		R.T.→-70℃约90min
	工作室		温度冲击范围		高温60℃～+150℃；低温-55℃～-10℃
			温度波动度		≤±0.5℃
			温度偏差		≤±2℃
	温度回复时间				≤5min
	温度回复条件	CJ80S3I		条件一	高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min，样品重量10Kg铝。
		CJ80S3I		条件二	高温150℃暴露30min，环境温度5min，低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg铝。
		CJ80S3II		条件一	高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min，样品重量20Kg铝。
				条件二	高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg铝。
				条件三	高温暴露+150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min，样品重量10Kg铝。
		CJ150S3I		条件一	高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min，样品重量20Kg铝。
		CJ150S3I		条件二	高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg铝。
		CJ150S3II		条件一	高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min，样品重量20Kg 铝。
				条件二	高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg铝。
				条件三	高温暴露150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min，样品重量10Kg铝。
		CJ225S3I		条件一	高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min，样品重量10Kg铝。
		CJ225S3I		条件二	高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg铝。
		CJ225S3II		条件一	高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min，样品重量20Kg铝。
				条件二	高温125℃暴露30min，环境温度暴露5 min，低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg铝。
				条件三	高温150℃暴露30min，低温- 55℃暴露30min，负载10kg铝。
结构	外壳				冷轧钢板表面喷塑（象牙白）
	内胆				不锈钢板
	隔热材料				非危废类环保型玻璃纤维保温层
制冷	制冷方式				水冷
制冷	制冷机				进口压缩机
测试孔					左侧Φ50mm 1个
控制器					日本优易控控制器
工作室尺寸(mm)				W	500	600	750
				H	400	500	500
				D	400	500	600
外部尺寸(mm)				W	1460	1560	1710
				H	1840	1940	1940
				D	1500	1600	1700
电源					AC380V 50Hz三相四线制+接地线，保护接地电阻小于4Ω